四探針面電阻測量儀

概述：

       本儀器用于測量鍍膜玻璃的面電阻，或稱方塊電阻（Ohm/sq.）。

    測量對象：表面導電的Low-E鍍膜玻璃

特性：

 四探針式測量，準確度高； 

 探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易劃傷膜層；

 測量速度快；

 液晶屏顯示讀數； 

 帶有電量不足指示燈。

技術參數：

 測量范圍：0.1-199.9 Ohm/sq.；

 分辨率：0.1 Ohm/sq.；

 精確性：0.9 % ；

 外形尺寸：115mm×68mm×30mm；

 重量：約 150g

說明：

檢測過程和讀數時都要保持儀器與待測樣片充分接觸；

為提高測量的精確度，最好在離待測樣片邊緣大于5cm的位置測量；

RC3175與RC2175相比，除測量范圍不同外，其他功能一致；

生產商：美國EDTM